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1.仪器名称: X射线衍射仪 型号:X'Pert Pro 厂家荷兰帕纳科公司
2 技术参数及指标
2.1 X 射线源:最大输出功率18KW
2.2 陶瓷X光管:Cu靶,2.2KW,更换X光管后无需重新校准
2.3 测角仪角度重现性:+0.0001度
2.4 样品台:标准粉末样品台,样品台水平放置,适合测量粉末样品、松散固体、块状、片状等样品

2.5 基本光学系统:光学系统为模块化设计,具有可更换和可扩展性,包括索拉狭缝、

发散狭缝、防散射狭缝、自动接收狭缝等
2.6 探测器
2.6.1 半导体阵列探测器,微型探测器的数目大于100个
 2.6.1.1 动态范围:4,000,000cps或以上
 2.6.1.2 线性范围:1,000,000cps或以上
 2.6.1.3 最大背景:0.2cps
 2.6.1.4 效率(对Cu靶):94%
2.6.2 正比探测器
 2.6.2.1 动态范围:1,000,000cps或以上
 2.6.2.2 线性范围:1,000,000cps或以上
 2.6.2.3 最大背景:0.4cps
 2.6.2.4 效率(对Cu靶):94%
3.主要附件
3.1 薄膜附件:配置平行光转化镜(hybrid) ,平行光准直器(collimator)。可对薄膜进行掠入射研究,进行物相鉴定
3.2 小角散射附件:可以完成纳米材料的粒度分布测定
4.用途及功能:X射线衍射分析可应用到物理、化学、地质矿产、生命科学、材料科学以及各种工程技术领域之内,是一种重要的实验手段和分析方法。
可进行粉末样品、块状、片状等固体样品的物相分析(定性和定量),微量相分析;可对薄膜进行掠入射研究,进行物相鉴定;可完成纳米材料的粒度分布测定等

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